Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Lehnert, Tobias | Adam, Jens | Veith, Michael
Journal of Applied Physics , 2009, 106 064108.
http://dx.doi.org/10.1063/1.3223323
McMeeking, Robert M. | Ma, Lifeng | Arzt, Eduard
Journal of Applied Mechanics , 2009, 76 (3), 031007.
http://dx.doi.org/10.1115/1.3002760
Lazar, Markus | Kirchner, Helmut O. K.
Zeitschrift für angewandte Mathematik und Mechanik , 2009, 89 (8), 651-665.
http://dx.doi.org/10.1002/zamm.200800116
Tanaka, Motomu | Tutus, Murat | Kaufmann, Stefan | Rossetti, Fernanda F. | Schneck, Emanuel | Weiss, Ingrid M.
Journal of Structural Biology , 2009, 168 137-142.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jsb.2009.05.008
Kroner, Elmar | Arzt, Eduard
Vakuum in Forschung und Praxis , 2009, 21 (2), A14-A17.
http://dx.doi.org/10.1002/vipr.200990031
Trenado, Carlos | Haab, Lars | Strauss, Daniel J.
IEEE Transactions on Neural Systems & Rehabilitation Engineering , 2009, 17 (1), 46-52.
http://dx.doi.org/10.1109/TNSRE.2008.2010469
Schem, Michael | Schmidt, Thomas | Gerwann, Jochen | Wittmar, Matthias | Veith, Michael | Thompson, George E. | Molchan, Igor S. | Hashimoto, Teruo | Skeldon, Peter | Phani, Ratna Ayalasomajayula | Santucci, Sandro | Zheludkevich, Mikhail L.
Corrosion Science , 2009, 51 (10), 2304-2315.
http://dx.doi.org/10.1016/j.corsci.2009.06.007
Prades, Juan Daniel | Jimenez-Diaz, Roman | Hernandez-Ramirez, Francisco | Barth, Sven | Cirera, Albert | Romano-Rodriguez, Albert | Mathur, Sanjay | Morante, Juan Ramon
Sensors and Actuators B , 2009, 140 (2), 337-341.
http://dx.doi.org/10.1016/j.snb.2009.04.070
Buhl, Sebastian | Greiner, Christian | del Campo, Aranzazu | Arzt, Eduard
International Journal of Materials Research , 2009, 100 (8), 1119-1126.
http://dx.doi.org/10.3139/146.110146
Gruber, Patric A. | Arzt, Eduard | Spolenak, Ralph
Journal of Materials Research , 2009, 24 (6), 1906-1918.
http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2009.0252