Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Tolosa, Aura | Krüner, Benjamin | Jäckel, Nicolas | Aslan, Mesut | Vakifahmetoglu, Cekdar | Presser, Volker
Journal of Power Sources , 2016, 313 178-188.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jpowsour.2016.02.077
Cui, Yan | Torrents Abad, Oscar | Wang, Fei | Huang, Ping | Lu, Tian-Jian | Xu, Ke-Wei | Wang, Jian
Scientific Reports , 2016, 6 23306.
http://dx.doi.org/10.1038/srep23306
Xue, Longjian | Pham, Jonathan T. | Iturri, Jagoba | del Campo, Aránzazu
Langmuir , 2016, 32 (10), 2428-2435.
http://dx.doi.org/10.1021/acs.langmuir.6b00513
Wu, Wenming | Guijt, Rosanne M. | Silina, Yuliya E. | Koch, Marcus | Manz, Andreas
RSC Advances , 2016, 6 (27), 22469-22475.
http://dx.doi.org/10.1039/C5RA25890A
Kraß, Marc-Dominik | Gosvami, Nitya Nand | Carpick, Robert W. | Müser, Martin H. | Bennewitz, Roland
Journal of Physics: Condensed Matter , 2016, 28 (13), 134004.
http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/28/13/134004
Balijepalli, Ramgopal | Begley, Matthew R. | Fleck, Norman A. | McMeeking, Robert M. | Arzt, Eduard
International Journal of Solids and Structures , 2016, 85-86 160-171.
http://dx.doi.org/10.1016/j.ijsolstr.2016.02.018
Aslan, Mesut | Zeiger, Marco | Jäckel, Nicolas | Grobelsek, Ingrid | Weingarth, Daniel | Presser, Volker
Journal of Physics: Condensed Matter , 2016, 28 (11), 114003.
http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/28/11/114003
Shpigel, Netanel | Levi, Mikhael D. | Sigalov, Sergey | Aurbach, Doron | Daikhin, Leonid | Presser, Volker
Journal of Physics: Condensed Matter , 2016, 28 (11), 114001.
http://dx.doi.org/10.1088/0953-8984/28/11/114001
Kiefer, Karin | Akp | Haidar, Ayman | Ikier, Tuba | Akkan, Ca | Akman, Erhan | Lee, Juseok | Martinez Miró, Marina | Kaçar, Elif | Demir, Arif | Veith, Michael | Ural, Dilek | Kasap, Murat | Kesmez, Mehmet | Abdul-Khaliq, Hashim | Aktas, Oral C.
RSC Advances , 2016, 6 (21), 17460-17469.
http://dx.doi.org/10.1039/C5RA21775J
McGraw, Joshua D. | Chan, Tak Shing | Maurer, Simon | Salez, Thomas | Benzaquen, Michael | Raphaël, Elie | Brinkmann, Martin | Jacobs, Karin
Proceedings of the National Academy of Sciences , 2016, 113 (5), 1168-1173.
http://dx.doi.org/10.1073/pnas.1513565113
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