Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Kiefer, Karin | Lee, Juseok | Haidar, Ayman | Martinez Miró, Marina | Akkan, Cagri Kaan | Veith, Michael | Aktas, Oral C. | Abdul-Khaliq, Hashim
Nanotechnology , 2014, 25 (49), 495101.
http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/25/49/495101
Alhmoud, Hashim Z. | Guinan, Taryn M. | Elnathan, Roey | Kobus, Hilton | Voelcker, Nicolas H.
Analyst , 2014, 139 (22), 5999-6009.
http://dx.doi.org/10.1039/C4AN01391C
May, Alexander | Agarwal, Neha | Lee, Juseok | Lambert, Marcel | Akkan, Cagri Kaan | Nothdurft, Frank P. | Aktas, Oral C.
Materials Letters , 2014, 138 21-24.
http://dx.doi.org/10.1016/j.matlet.2014.09.092
Peckys, Diana B. | Bandmann, Vera | de Jonge, Niels
Methods in Cell Biology , 2014, 124 305-322.
http://dx.doi.org/10.1016/B978-0-12-801075-4.00014-8
Lemloh, Marie-Louise | Pohl, Anna | Weber, Eva | Zeiger, Marco | Bauer, Petra | Weiss, Ingrid M. | Schneider, Andreas S.
Bioinspired Materials , 2014, 1 (1), 11 S..
https://dx.doi.org/10.2478/bima-2014-0001
Mohr, Markus | Caron, Arnaud | Herbeck-Engel, Petra | Bennewitz, Roland | Gluche, Peter | Brühne, Kai | Fecht, Hans-Jörg
Journal of Applied Physics , 2014, 116 (12), 124308.
http://dx.doi.org/10.1063/1.4896729
Pohl, Anna | Weiss, Ingrid M.
Beilstein Journal of Nanotechnology , 2014, 5 1823-1835.
http://dx.doi.org/10.3762/bjnano.5.193
Jantschke, Anne | Fischer, Cathleen | Hensel, René | Braun, Hans-Georg | Brunner, Eike
Nanoscale , 2014, 6 (20), 11637-11645.
http://dx.doi.org/10.1039/C4NR02662D
Dahmen, Tim | Baudoin, Jean-Pierre | Lupini, Andrew R. | Kübel, Christian | Slusallek, Philipp | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2014, 20 (Supplement S3), 786-787.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927614005650
de Carvalho Menezes, Elisabete H. S. | König, Peter | Jilavi, Mohammad H. | Oliveira, Peter William de | Alves, Severino
Materials Sciences and Applications , 2014, 5 (11), 783-788.
http://dx.doi.org/10.4236/msa.2014.511078
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