Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Kraegeloh, Annette | Cavelius, Christian | Peuschel, Henrike | Böse, Katharina | Kucki, Melanie
Pneumologie , 2013, 67 (12), A8.
http://dx.doi.org/10.1055/s-0033-1357056
Persch, Nico | Elhayek, Ahmed | Welk, Martin | Bruhn, Andrés | Grewenig, Sven | Böse, Katharina | Kraegeloh, Annette | Weickert, Joachim
Measurement Science and Technology , 2013, 24 (12), 125703.
http://stacks.iop.org/0957-0233/24/i=12/a=125703
Peuschel, Henrike | Ruckelshausen, Thomas | Cavelius, Christian | Kraegeloh, Annette
Pneumologie , 2013, 67 (12), A10.
http://dx.doi.org/10.1055/s-0033-1357058
Ott, Julia | Völker, Benjamin | Gan, Yixiang | McMeeking, Robert M. | Kamlah, Marc
Acta Mechanica Sinica , 2013, 29 (5), 682-698.
http://dx.doi.org/10.1007/s10409-013-0070-x
Martin, Alicia C. | Lakhera, Nishant | DiRienzo, Amy L. | Safranski, David L. | Schneider, Andreas S. | Yakacki, Christopher M. | Frick, Carl P.
Composites Science and Technology , 2013, 89 110-119.
http://dx.doi.org/10.1016/j.compscitech.2013.09.012
Wang, F. | Zhao, J. | Huang, P. | Schneider, Andreas S. | Lu, T. J. | Xu, K. W.
Journal of Nanomaterials , 2013, 2013 934986.
http://dx.doi.org/10.1155/2013/934986
de Jonge, Niels | Peckys, Diana B.
Microscopy and Microanalysis , 2013, 19 (S2), 430-431.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927613004145
Peckys, Diana B. | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2013, 19 (S2), 262-263.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927613003309
Peckys, Diana B. | Werner, Ulf | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2013, 19 (S2), 138-139.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927613004145
Porada, Slawomir | Zhao, Ran | van der Wal, Albert | Presser, Volker | Biesheuvel, P. Maarten
Progress in Materials Science , 2013, 58 (8), 1388-1442.
http://dx.doi.org/10.1016/j.pmatsci.2013.03.005
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