Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Bohn, Esther | Eckl, Thomas | Kamlah, Marc | McMeeking, Robert M.
Journal of The Electrochemical Society , 2013, 160 (10), A1638-A1652.
http://dx.doi.org/10.1149/2.011310jes
Akkan, Cagri Kaan | Hammadeh, Mohamad Eid | Brück, Stefan | Park, Haiwoong | Veith, Michael | Abdul-Khaliq, Hashim | Aktas, Oral C.
Materials Letters , 2013, 109 261-264.
http://dx.doi.org/10.1016/j.matlet.2013.07.030
Burheim, Odne S. | Aslan, Mesut | Atchison, Jennifer S. | Presser, Volker
Journal of Power Sources , 2013, 246 160-166.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jpowsour.2013.06.164
Levi, Mikhael D. | Sigalov, Sergey | Salitra, Gregory | Nayak, Prasant | Aurbach, Doron | Daikhin, Leonid | Perre, Emilie | Presser, Volker
Journal of Physical Chemistry C , 2013, 117 (30), 15505-15514.
http://dx.doi.org/10.1021/jp403653d
Baudoin, Jean-Pierre | Jinschek, Joerg R. | Boothroyd, Chris B. | Dunin-Borkowski, Rafal E. | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2013, 19 (4), 814-820.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927613001475
Lessel, Matthias | Loskill, Peter | Hausen, Florian | Gosvami, Nitya Nand | Bennewitz, Roland | Jacobs, Karin
Physical Review Letters , 2013, 111 (3), 035502.
http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevLett.111.035502
Kaasik, Friedrich | Tamm, Tarmo | Hantel, Moritz M. | Perre, Emilie | Aabloo, Alvo | Lust, Enn | Bazant, Martin Z. | Presser, Volker
Electrochemistry Communications , 2013, 34 196-199.
http://dx.doi.org/10.1016/j.elecom.2013.06.011
Altmayer, Jessica | Barth, Sven | Mathur, Sanjay
RSC Advances , 2013, 3 (28), 11234-11239.
http://dx.doi.org/10.1039/C3RA00050H
Sengupta Ghatak, Anindita | Koch, Marcus | Guth, Christina | Weiss, Ingrid M.
International Journal of Molecular Sciences , 2013, 14 (6), 11842-11860.
http://www.mdpi.com/1422-0067/14/6/11842
Kraus, Tobias | de Jonge, Niels
Langmuir , 2013, 29 (26), 8427-8432.
http://dx.doi.org/10.1021/la401584z
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