Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Kharlamova, Marianna V. | Mochalin, Vadym N. | Lukatskaya, Maria R. | Niu, Junjie | Presser, Volker | Mikhalovsky, Sergey | Gogotsi, Yury
Materials Express , 2013, 3 (1), 1-10.
http://dx.doi.org/10.1166/mex.2013.1102
Kenar, Halime | Akman, Erhan | Kacar, Elif | Demir, Arif | Park, Haiwoong | Abdul-Khaliq, Hashim | Aktas, Oral C. | Karaoz, Erdal
Colloids and Surfaces B , 2013, 108 305-312.
http://dx.doi.org/10.1016/j.colsurfb.2013.02.039
Paretkar, Dadhichi | Kamperman, Marleen | Martina, David | Zhao, Jiahua | Creton, Costantino | Lindner, Anke | Jagota, Anand | McMeeking, Robert M. | Arzt, Eduard
Journal of The Royal Society Interface , 2013, 10 (83), 20130171.
http://rsif.royalsocietypublishing.org/content/10/83/20130171.abstract
Chen, Zhaoyu | Diebels, Stefan | Peter, Nicolas J. | Schneider, Andreas S.
Computational Materials Science , 2013, 72 127-139.
http://dx.doi.org/10.1016/j.commatsci.2013.01.040
Lakhera, Nishant | Graucob, Annalena | Schneider, Andreas S. | Kroner, Elmar | Micciché, Maurizio | Arzt, Eduard | Frick, Carl P.
MRS Communications , 2013, 3 (1), 73-77.
http://dx.doi.org/10.1557/mrc.2013.3
Wählisch, Felix | Hoth, Judith | Held, Christian | Seyller, Thomas | Bennewitz, Roland
Wear , 2013, 300 (1-2), 78-81.
http://dx.doi.org/10.1016/j.wear.2013.01.108
Lemloh, Marie-Louise | Marin, Frédéric | Herbst, Frédéric | Plasseraud, Laurent | Schweikert, Michael | Baier, Johannes | Bill, Joachim | Brümmer, Franz
Journal of Structural Biology , 2013, 181 (2), 155-161.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jsb.2012.12.001
Ramachandra, Ranjan | Demers, Hendrix | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2013, 19 (1), 93-101.
http://dx.doi.org/10.1017/S143192761201392X
Akman, Erhan | Aktas, Oral C. | Genc Oztoprak, Belgin | Gunes, Murat | Kacar, Elif | Gundogdu, Ozcan | Demir, Arif
Optics & Laser Technology , 2013, 49 156-160.
http://dx.doi.org/10.1016/j.optlastec.2013.01.003
Baudoin, Jean-Pierre | Jerome, W. Gray | Kübel, Christian | de Jonge, Niels
PLOS ONE , 2013, 8 (1), e55022.
http://dx.doi.org/10.1371%2Fjournal.pone.0055022
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