Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Weiss, Ingrid M.
Zeitschrift für Kristallographie – Crystalline Materials , 2012, 227 (11), 723-738.
http://dx.doi.org/10.1524/zkri.2012.1530
Peter, Nicolas J. | Zhang, Xiao-Sheng | Chu, Shi-Gan | Zhu, Fu-Yun | Seidel, Helmut | Zhang, Hai-Xia
Applied Physics Letters , 2012, 101 (22), 221601-4.
http://dx.doi.org/10.1063/1.4768808
Weber, Eva | Guth, Christina | Weiss, Ingrid M.
PLOS ONE , 2012, 7 (10), e46653.
http://dx.doi.org/10.1371%2Fjournal.pone.0046653
Pathak, Amit | Chen, Christopher S. | Evans, Anthony G. | McMeeking, Robert M.
Journal of Applied Mechanics , 2012, 79 (6), 061020.
http://dx.doi.org/10.1115/1.4006452
Ring, Elisabeth A. | de Jonge, Niels
Micron , 2012, 43 (11), 1078-1084.
http://dx.doi.org/10.1016/j.micron.2012.01.010
Hemmer, Eva | Kumakiri, Izumi | Lecerf, Nicolas | Bredesen, Rune | Barth, Sven | Altmayer, Jessica | Donia, Nicole | Cavelius, Christian | Soga, Kohei | Mathur, Sanjay
Microporous and Mesoporous Materials , 2012, 163 229-236.
http://dx.doi.org/10.1016/j.micromeso.2012.06.057
Hantel, Moritz M. | Presser, Volker | McDonough, John K. | Feng, Guang | Cummings, Peter T. | Gogotsi, Yury | Kötz, Rüdiger
Journal of The Electrochemical Society , 2012, 159 (11), A1897-A1903.
http://dx.doi.org/10.1149/2.006212jes
Labuda, Aleksander | Lysy, Martin | Paul, William | Miyahara, Yoichi | Grütter, Peter | Bennewitz, Roland | Sutton, Mark
Physical Review E , 2012, 86 (3), 031104.
http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevE.86.031104
Geyer, Tihamér | Born, Philip | Kraus, Tobias
Physical Review Letters , 2012, 109 (12), 128302.
http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.109.128302
Veith, Michael | Moh, Karsten | Cavelius, Christian
Advanced Engineering Materials , 2012, 14 (9), 825-829.
http://dx.doi.org/10.1002/adem.201200111
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