Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Majumder, Abhijit | Mondal, Subrata | Tiwari, Anurag Kumar | Ghatak, Animangsu | Sharma, Ashutosh
Soft Matter , 2012, 8 (27), 3228-3233.
http://dx.doi.org/10.1039/c2sm25507c
Mousavi, Sayed Hadi | Müller, Thomas S. | Oliveira, Peter William de
Journal of Colloid and Interface Science , 2012, 382 (1), 48-52.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jcis.2012.05.030
Brörmann, Katrin | Burger, Karin | Jagota, Anand | Bennewitz, Roland
Journal of Adhesion , 2012, 88 (7), 589-607.
http://dx.doi.org/10.1080/00218464.2012.682897
Presser, Volker | Vakifahmetoglu, Cekdar
CrystEngComm , 2012, 14 (13), 4525-4526.
http://dx.doi.org/10.1039/c2ce25079a
Demers, Hendrix | Ramachandra, Ranjan | Drouin, Dominique | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2012, 18 (3), 582-590.
http://dx.doi.org/10.1017/s1431927612000232
Völker, Benjamin | McMeeking, Robert M.
Journal of Power Sources , 2012, 215 199-215.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jpowsour.2012.05.014
Churyumov, A. Y. | Bazlov, A. I. | Zadorozhnyy, V. Y. | Solonin, A. N. | Caron, Arnaud | Louzguine-Luzgin, Dmitri V.
Materials Science and Engineering A-Structural Materials Properties Microstructure and Processing , 2012, 550 358-362.
http://dx.doi.org/10.1016/j.msea.2012.04.087
Haase, Anja | Kraker, Elke | Krenn, Joachim R. | Palfinger, Christian | Heusing, Sabine | Oliveira, Peter William de | Veith, Michael
International Journal of High Speed Electronics and Systems , 2012, 20 (4), 787-799.
http://dx.doi.org/10.1142/S0129156411007057
Jagota, Anand | Paretkar, Dadhichi | Ghatak, Animangsu
Physical Review E , 2012, 85 (5), 051602.
http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevE.85.051602
Lehnert, Tobias | Adam, Jens | Veith, Michael
Journal of Applied Physics , 2012, 111 (9), 094101-5.
http://dx.doi.org/10.1063/1.4709747
rwe