Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Kozhukharov, Stephan | Kozhukharov, Vladimir | Wittmar, Matthias | Schem, Michael | Aslan, Mesut | Caparrotti, Hinka | Veith, Michael
Progress in Organic Coatings , 2011, 71 (2), 198-205.
http://dx.doi.org/10.1016/j.porgcoat.2011.02.013
Mandel, Karl | Dillon, Frank | Koos, Antal A. | Aslam, Zabeada | Jurkschat, Kerstin | Cullen, Frank | Crossley, Alison | Bishop, Hugh | Moh, Karsten | Cavelius, Christian | Arzt, Eduard | Grobert, Nicole
Chemical Communications , 2011, 47 (14), 4108-4110.
http://dx.doi.org/10.1039/c0cc02769c
Weiss, Ingrid M.
Nature Chemical Biology , 2011, 7 (4), 192-193.
http://dx.doi.org/10.1038/nchembio.550
Labuda, Aleksander | Hausen, Florian | Gosvami, Nitya Nand | Grütter, Peter H. | Lennox, R. Bruce | Bennewitz, Roland
Langmuir , 2011, 27 (6), 2561-2566.
http://dx.doi.org/10.1021/la104497t
Harris, Arief R. | Schwerdtfeger, Karsten | Strauss, Daniel J.
Medical and Biological Engineering and Computing , 2011, 49 (2), 221-231.
http://dx.doi.org/10.1007/s11517-010-0726-7
Trenado, Carlos | Wittmar, Matthias | Veith, Michael | Rosero-Navarro, Nataly C. | Aparicio, Mario | Duran, Alicia | Castro, Yolanda | Strauss, Daniel J.
Modelling and Simulation in Materials Science and Engineering , 2011, 19 (2), 025009.
http://dx.doi.org/10.1088/0965-0393/19/2/025009
Goncalves, Rogeria R. | Messaddeq, Younes | Aegerter, Michel A. | Ribeiro, Sidney J. L.
Journal of Nanoscience and Nanotechnology , 2011, 11 (3), 2433-2439.
http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2011.3535
Adam, Jens | Dietz, Jennifer | Koch, Marcus | Veith, Michael
Materiały Ceramiczne / Ceramic materials , 2011, 62 (4), 510-515.
http://www.ptcer.pl/download/367
Girault, Baptiste | Eyidi, Dominique | Chauveau, Thierry | Babonneau, David | Renault, Pierre Olivier | Le Bourhis, Eric | Goudeau, Philippe
Journal of Applied Physics , 2011, 109 (1), 014305.
http://dx.doi.org/10.1063/1.3524264
Schulzendorf, Mathias | Cavelius, Christian | Born, Philip | Murray, Eoin | Kraus, Tobias
Langmuir , 2011, 27 (2), 727-732.
http://dx.doi.org/10.1021/la102630y
rwe