Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
O'Shea, Sean J. | Gosvami, Nitya Nand | Lim, Leonard T. W. | Hofbauer, Wulf
Japanese Journal of Applied Physics , 2010, 49 (8), 08LA01.
http://dx.doi.org/10.1143/JJAP.49.08LA01
Steiner, Pascal | Gnecco, Enrico | Filleter, Tobin | Gosvami, Nitya Nand | Maier, Sabine | Meyer, Ernst | Bennewitz, Roland
Tribology Letters , 2010, 39 (3), 321-327.
http://dx.doi.org/10.1007/s11249-010-9677-2
Solieman, Ahmed | Alamri, Saleh N. | Aegerter, Michel A.
Journal of Nanoparticle Research , 2010, 12 (7), 2381-2385.
http://dx.doi.org/10.1007/s11051-010-0031-2
Veith, Michael | Rammo, Andreas | Schütt, Oliver | Huch, Volker
Zeitschrift Für Anorganische Und Allgemeine Chemie , 2010, 636 (7), 1212-1221.
http://dx.doi.org/10.1002/zaac.201000059
Ren, Shuhua | Wittmar, Matthias | Aslan, Mesut | Grobelsek, Ingrid | Quilitz, Mario | Veith, Michael
Materiały Ceramiczne / Ceramic materials , 2010, 62 (4), 449-455.
Gosvami, Nitya Nand | Filleter, Tobin | Egberts, Philip | Bennewitz, Roland
Tribology Letters , 2010, 39 (1), 19-24.
http://dx.doi.org/10.1007/s11249-009-9508-5
Eder, Magdalena | Concors, Natalie | Arzt, Eduard | Weiss, Ingrid M.
Advanced Engineering Materials , 2010, 12 (5), 405-411.
http://dx.doi.org/10.1002/adem.201000092
Kamperman, Marleen | Kroner, Elmar | Del Campo, Aranzazu | McMeeking, Robert M. | Arzt, Eduard
Advanced Engineering Materials , 2010, 12 (5), 335-348.
http://dx.doi.org/10.1002/adem.201000104
McMeeking, Robert M. | Ma, Lifeng | Arzt, Eduard
Advanced Engineering Materials , 2010, 12 (5), 389-397.
http://dx.doi.org/10.1002/adem.201000091
Schübbe, Sabrina | Cavelius, Christian | Schumann, Christian | Koch, Marcus | Kraegeloh, Annette
Advanced Engineering Materials , 2010, 12 (5), 417-422.
http://dx.doi.org/10.1002/adem.201000093
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