Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Lehnert, Tobias | Herbeck-Engel, Petra | Adam, Jens | Klein, Gabi | Kololuoma, Terho | Veith, Michael
Advanced Engineering Materials , 2010, 12 (5), 379-384.
http://dx.doi.org/10.1002/adem.201000109
Boesel, Luciano F. | Greiner, Christian | Arzt, Eduard | Del Campo, Aranzazu
Advanced Materials , 2010, 22 (19), 2125-2137.
http://dx.doi.org/10.1002/adma.200903200
Pan, Jun | Ganesan, Rajesh | Shen, Hao | Mathur, Sanjay
Journal of Physical Chemistry C , 2010, 114 (18), 8245-8250.
http://dx.doi.org/10.1021/jp101072f
Filleter, Tobin | Bennewitz, Roland
Physical Review B , 2010, 81 (15), 155412.
http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.81.155412
Wu, M. S. | Kirchner, Helmut O. K.
Journal of the Mechanics and Physics of Solids , 2010, 58 (3), 300-310.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jmps.2009.12.003
Veith, Michael | Kolano, David | Kirs, Tatjana | Huch, Volker
Journal of Organometallic Chemistry , 2010, 695 1074-1079.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jorganchem.2009.11.036
Quilitz, Mario | Steingröver, Klaus | Veith, Michael
Journal of Materials Science: Materials in Medicine , 2010, 21 (2), 399-405.
http://dx.doi.org/10.1007/s10856-009-3875-1
Solieman, Ahmed | Moharram, Abdel-Rahim Hassan | Aegerter, Michel A.
Applied Surface Science , 2010, 256 (6), 1925-1929.
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2009.10.039
Tiefensee, Frank | Becker-Willinger, Carsten | Heppe, Gisela | Herbeck-Engel, Petra | Jakob, Anette
Ultrasonics , 2010, 50 (3), 363-366.
http://dx.doi.org/10.1016/j.ultras.2009.08.012
Born, Philip | Murray, Eoin | Kraus, Tobias
Journal of Physics and Chemistry of Solids , 2010, 71 (2), 95-99.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jpcs.2009.09.011
rwe