Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Hofbauer, Wulf | Ho, R. J. | Hairul Nizam, R. | Gosvami, Nitya Nand | O'Shea, Sean J.
Physical Review B , 2009, 80 (13), 134104.
http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.80.134104
Prades, Juan Daniel | Jimenez-Diaz, Roman | Manzanares, Marta | Hernandez-Ramirez, Francisco | Cirera, Albert | Romano-Rodriguez, Albert | Mathur, Sanjay | Morante, Juan Ramon
Physical Chemistry Chemical Physics , 2009, 11 (46), 10881-10889.
http://dx.doi.org/10.1039/b915646a
Mathur, Sanjay | Cavelius, Christian | Shen, Hao
Zeitschrift Für Anorganische Und Allgemeine Chemie , 2009, 635 (13-14), 2106-2111.
http://dx.doi.org/10.1002/zaac.200900167
Schübbe, Sabrina | Williams, Timothy J. | Xie, Gary | Kiss, Hajnalka E. | Brettin, Thomas S. | Martinez, Diego | Ross, Christian A. | Schüler, Dirk | Cox, B. Lea | Nealson, Kenneth H. | Bazylinski, Dennis A.
Applied and Environmental Microbiology , 2009, 75 (14), 4835-4852.
http://dx.doi.org/10.1128/AEM.02874-08
Gutès, Albert | Carraro, Carlo | Maboudian, Roya
Journal of the American Chemical Society , 2009, 132 (5), 1476-1477.
http://dx.doi.org/10.1021/ja909806t
Eswara-Prasad, Namburi | Vogt, Dagmar | Bidlingmaier, Thomas | Wanner, Alexander | Arzt, Eduard
Materials Science and Technology , 2009, 26 (11), 1363-1372.
http://dx.doi.org/10.1179/026708309X12506933873620
Garcia, Benjamin C. | Kamperman, Marleen | Ulrich, Ralph | Jain, Anurag | Gruner, Sol M. | Wiesner, Ulrich
Chemistry of Materials , 2009, 21 (22), 5397-5405.
http://dx.doi.org/10.1021/cm901885c
Heusing, Sabine | Oliveira, Peter William de | Kraker, Elke | Haase, Anja | Palfinger, Christian | Veith, Michael
Thin Solid Films , 2009, 518 1164-1169.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2009.06.056
Kraker, Elke | Haase, Anja | Jakopic, Georg | Krenn, Joachim R. | Köstler, Stefan | Konrad, Christian | Heusing, Sabine | Oliveira, Peter William de | Veith, Michael
Thin Solid Films , 2009, 518 1214-1217.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2009.03.228
Gross, Ruth | Wolf, Matthias M. N. | Schumann, Christian | Friedman, Noga | Sheves, Mordechai | Li, Lin | Engelhard, Martin | Trentmann, Oliver | Neuhaus, H. Ekkehard | Diller, Rolf
Journal of the American Chemical Society , 2009, 131 (41), 14868-14878.
http://dx.doi.org/10.1021/ja904218n
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