Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Prades, Juan Daniel | Jimenez-Diaz, Roman | Hernandez-Ramirez, Francisco | Pan, Jun | Romano-Rodriguez, Albert | Mathur, Sanjay | Morante, Juan Ramon
Applied Physics Letters , 2009, 95 (5), 053101 (3 S.).
http://dx.doi.org/10.1063/1.3192358
Prades, Juan Daniel | Jimenez-Diaz, Roman | Hernandez-Ramirez, Francisco | Barth, Sven | Pan, Jun | Cirera, Albert | Romano-Rodriguez, Albert | Mathur, Sanjay | Morante, Juan Ramon
International Journal of Nanotechnology , 2009, 6 (9), 860-869.
http://dx.doi.org/10.1504/IJNT.2009.026745
Barroso-Bujans, Fabienne | Serna, Rosalia | Sow, Eve Awa | Fierro, José L. G. | Veith, Michael
Langmuir , 2009, 25 (16), 9094-9100.
http://dx.doi.org/10.1021/la900518s
Low, Yin Fen | Strauss, Daniel J.
Physiological Measurement , 2009, 30 (8), 821-832.
http://dx.doi.org/10.1088/0967-3334/30/8/007
Veith, Michael | Rammo, Andreas | Huch, Volker
Zeitschrift Für Anorganische Und Allgemeine Chemie , 2009, 635 (8), 1110-1114.
http://dx.doi.org/10.1002/zaac.200900089
Gross, Ruth | Schumann, Christian | Wolf, Matthias M. N. | Herbst, Johannes | Diller, Rolf | Friedman, Noga | Sheves, Mordechai
Journal of Physical Chemistry B , 2009, 113 (22), 7851-7860.
http://dx.doi.org/10.1021/jp810042f
Kozhukharov, Vladimir | Tsaneva, Gabriela | Kozhukharov, Stephan | Gerwann, Jochen | Schem, Michael | Schmidt, Thomas | Veith, Michael
Bulgarian Chemistry and Industry , 2009, 78 (1-4), 23-29.
Weiss, Ingrid M. | Kaufmann, Stefan | Heiland, Birgit | Tanaka, Motomu
Journal of Structural Biology , 2009, 167 (1), 68-75.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jsb.2009.04.005
Egberts, Philip | Filleter, Tobin | Bennewitz, Roland
Nanotechnology , 2009, 20 (26), 264005 (7pp).
http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/20/26/264005
Deuschle, Julia K. | Deuschle, H. Matthias | Enders, Susan | Arzt, Eduard
Journal of Materials Research , 2009, 24 (3), 736-748.
http://dx.doi.org/10.1557/JMR.2009.0093
rwe