Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Castro, Mayra R. S. | Al-Dahoudi, Naji | Oliveira, Peter William de | Schmidt, Helmut K.
Journal of Nanoparticle Research , 2009, 11 (4), 801-806.
http://dx.doi.org/10.1007/s11051-008-9448-2
Mathur, Sanjay | Erdem, Arzum | Cavelius, Christian | Barth, Sven | Altmayer, Jessica
Sensors and Actuators B , 2009, 136 (2), 432-437.
http://dx.doi.org/10.1016/j.snb.2008.11.049
Filleter, Tobin | McChesney, Jessica L. | Bostwick, Aaron | Rotenberg, Eli | Emtsev, Konstantin V. | Seyller, Thomas | Horn, Karsten | Bennewitz, Roland
Physical Review Letters , 2009, 102 (8), 086102-4.
http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.102.086102
Trenado, Carlos | Haab, Lars | Reith, Wolfgang | Strauss, Daniel J.
Journal of Neuroscience Methods , 2009, 178 (1), 237-247.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jneumeth.2008.12.012
Kozhukharov, Vladimir | Kozhukharov, Stephan | Tsaneva, Gabriela | Gerwann, Jochen | Schem, Michael | Schmidt, Thomas | Veith, Michael
Bulgarian Chemical Communications , 2009, 40 (3), 310-317.
Würz, Roland | Eicke, Axel | Frankenfeld, M. | Kessler, Friedrich | Powalla, Michael | Rogin, Peter | Yazdani-Assl, Omid
Thin Solid Films , 2009, 517 (7), 2415-2418.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2008.11.016
Barth, Sven | Estrade, Sonia | Hernandez-Ramirez, Francisco | Peiro, Francesca | Arbiol, Jordi | Romano-Rodriguez, Albert | Morante, Juan Ramon | Mathur, Sanjay
Crystal Growth and Design , 2009, 9 (2), 1077-1081.
http://dx.doi.org/10.1021/cg8009095
Mariam, Mai | Delb, Wolfgang | Corona-Strauss, Farah I. | Bloching, Marc | Strauss, Daniel J.
Physiological Measurement , 2009, 30 (2), 141-153.
http://dx.doi.org/10.1088/0967-3334/30/2/003
Greiner, Christian | Arzt, Eduard | Del Campo, Aranzazu
Advanced Materials , 2009, 21 (4), 479-482.
http://dx.doi.org/10.1002/adma.200801548
McMeeking, Robert M. | Arzt, Eduard | Evans, Anthony G.
Journal of Adhesion , 2009, 84 (7), 675-681.
http://dx.doi.org/10.1080/00218460802255558
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