Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Castro, Mayra R. S. | Lasagni, Andrés F. | Schmidt, Helmut K. | Mücklich, Frank
Applied Surface Science , 2008, 254 (18), 5874-5878.
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2008.03.140
Castro, Mayra R. S. | Oliveira, Peter William de | Schmidt, Helmut K.
Semiconductor Science and Technology , 2008, 23 (3), 035013.
http://dx.doi.org/10.1088/0268-1242/23/3/035013
Castro, Mayra R. S. | Sam, Ebru D. | Veith, Michael | Oliveira, Peter William de
Nanotechnology , 2008, 19 (10), 105704.
http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/19/10/105704
Ehrbar, M. | Schoenmakers, R. | Christen, E. H. | Fussenegger, M. | Weber, Wilfried
Nature Materials , 2008, 7 (10), 800-804.
https://dx.doi.org/10.1038/nmat2250
Weber, Wilfried | Schoenmakers, R. | Keller, B. | Gitzinger, M. | Grau, T. | Baba, M. D. E. | Sander, P. | Fussenegger, M.
Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America , 2008, 105 (29), 9994-9998.
https://dx.doi.org/10.1073/pnas.0800663105
Veith, Michael | Valtchev, Kroum | Huch, Volker
Inorganic Chemistry , 2008, 47 (3), 1204-1217.
http://dx.doi.org/10.1021/ic701729y
Veith, Michael | Belot, Céline | Guyard, Laurent | Huch, Volker | Knorr, Michael | Zimmer, Michael
European Journal of Inorganic Chemistry , 2008, (15), 2397-2406.
http://dx.doi.org/10.1002/ejic.200701259
Veith, Michael
Journal of Sol-Gel Science and Technology , 2008, 46 (3), 291-298.
http://dx.doi.org/10.1007/s10971-008-1692-5
Veith, Michael
Zeitschrift für Physikalische Chemie , 2008, 222 (2-3), 287-305.
http://dx.doi.org/10.1524/zpch.2008.222.2-3.287
Pütz, Jörg | Aegerter, Michel A.
Thin Solid Films , 2008, 516 (14), 4495-4501.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2007.05.086
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