Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Mathur, Sanjay | Rügamer, Thomas | Donia, Nicole | Shen, Hao
Journal of Nanoscience and Nanotechnology , 2008, 8 (5), 2597-2603.
http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2008.633
Mathur, Sanjay | Barth, Sven | Werner, Ulf | Hernandez-Ramirez, Francisco | Romano-Rodriguez, Albert
Advanced Materials , 2008, 20 (8), 1550-1554.
http://dx.doi.org/10.1002/adma.200701448
Mathur, Sanjay | Barth, Sven
Zeitschrift für Physikalische Chemie , 2008, 222 (2-3), 307-317.
http://dx.doi.org/10.1524/zpch.2008.222.2-3.307
Lu, Wensheng | Schmidt, Helmut K.
Advanced Powder Technology , 2008, 19 (1), 1-12.
http://dx.doi.org/10.1163/156855208X291666
Lu, Wensheng | Schmidt, Helmut K.
Ceramics International , 2008, 34 (3), 645-649.
http://dx.doi.org/10.1016/j.ceramint.2007.01.002
Lu, Songwei | Schmidt, Helmut K.
Materials Research Bulletin , 2008, 43 (3), 583-589.
http://dx.doi.org/10.1016/j.materresbull.2007.04.010
Lima, E. Jr. | Martins, Thiago Barros | Rechenberg, Hercilio Rodolfo | Goya, Gerardo F. | Cavelius, Christian | Rapalaviciute, Rasa | Shen, Hao | Mathur, Sanjay
Journal of Magnetism and Magnetic Materials , 2008, 320 (5), 622-629.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jmmm.2007.07.024
Kurz, Alexander | Aegerter, Michel A.
Thin Solid Films , 2008, 516 (14), 4513-4518.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2007.05.082
Avellaneda, César O. | Vieira, Diogo F. | Al-Kahlout, Amal | Heusing, Sabine | Leite, Edson R. | Pawlicka, Agnieszka | Aegerter, Michel A.
Solar Energy Materials and Solar Cells , 2008, 92 (2), 228-233.
http://dx.doi.org/10.1016/j.solmat.2007.02.025
Garcia Gomez de las Heras, S. | Pütz, Norbert | Koch, Marcus | Werner, Ulf | Mestres, Pedro
Microscopy and Microanalysis , 2007, 13 (Supplement S03), 242-243.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927607081214
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