Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Veith, Michael | Hreleva, Hinka | Gasthauer, Matthias | Rammo, Andreas | Huch, Volker
Zeitschrift Für Anorganische Und Allgemeine Chemie , 2006, 632 (6), 985-991.
http://dx.doi.org/10.1002/zaac.200600037
Veith, Michael | Frères, Jacqueline | Huch, Volker | Zimmer, Michael
Organometallics , 2006, 25 (8), 1875-1880.
http://dx.doi.org/10.1021/om0508637
Veith, Michael | Burkhart, Markus | Huch, Volker
Angewandte Chemie-International Edition , 2006, 45 (33), 5544-5546.
http://dx.doi.org/10.1002/anie.200600906
Veith, Michael
Advances in Organometallic Chemistry , 2006, 54 49-72.
http://dx.doi.org/10.1016/S0065-3055(05)54002-4
Uyanik, Mehmet | Arpac, Ertugrul | Schmidt, Helmut K. | Akarsu, Murat | Sayilkan, Funda | Sayilkan, Hikmet
Journal of Applied Polymer Science , 2006, 100 (3), 2386-2392.
http://dx.doi.org/10.1002/app.23139
Solieman, Ahmed | Aegerter, Michel A.
Thin Solid Films , 2006, 502 (1-2), 205-211.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.07.277
Schuler, Thomas | Krajewski, Thomas | Grobelsek, Ingrid | Aegerter, Michel A.
Thin Solid Films , 2006, 502 (1-2), 67-71.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.07.246
Schmidt, Helmut K. | Naumann, Matthias | Müller, Thomas S. | Akarsu, Murat
Thin Solid Films , 2006, 502 (1-2), 132-137.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.07.257
Schäfer, Gerd | Schmidt, Helmut K.
Journal of Sol-Gel Science and Technology , 2006, 38 (3), 241-244.
http://dx.doi.org/10.1007/s10971-006-7318-x
Schäfer, Gerd | Schmidt, Helmut K.
Journal of Sol-Gel Science and Technology , 2006, 38 (3), 215-221.
http://dx.doi.org/10.1007/s10971-006-7319-9
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