Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Sayilkan, Funda | Erdemoglu, Sema | Asiltürk, Meltem | Akarsu, Murat | Sener, Sadiye | Sayilkan, Hikmet | Erdemoglu, Murat | Arpac, Ertugrul
Materials Research Bulletin , 2006, 41 (12), 2276-2285.
http://dx.doi.org/10.1016/j.materresbull.2006.04.019
Sayilkan, Funda | Asiltürk, Meltem | Erdemoglu, Sema | Akarsu, Murat | Sayilkan, Hikmet | Erdemoglu, Murat | Arpac, Ertugrul
Materials Letters , 2006, 60 (2), 230-235.
http://dx.doi.org/10.1016/j.matlet.2005.08.023
Rehman, Habib-Ur | Schmidt, Helmut K. | Ahmad, Zahoor
Journal of Macromolecular Science Part A-Pure and Applied Chemistry , 2006, 43 (4-5), 703-717.
http://dx.doi.org/10.1080/10601320600602613
Pütz, Jörg | Kurz, Alexander | Aegerter, Michel A.
Thin Solid Films , 2006, 502 (1-2), 3-3.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.07.245
Pulker, Hans K. | Schmidt, Helmut K. | Aegerter, Michel A. | Pütz, Jörg
Thin Solid Films , 2006, 502 (1-2), 1-1.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.07.242
Mathur, Sanjay | Sivakov, Vladimir | Shen, Hao | Barth, Sven | Cavelius, Christian | Nilsson, Andreas | Kuhn, Patrick
Thin Solid Films , 2006, 502 (1-2), 88-93.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.07.249
Mathur, Sanjay | Shen, Hao | Veith, Michael | Rapalaviciute, Rasa | Agne, Thomas
Journal of the American Ceramic Society , 2006, 89 (6), 2027-2033.
http://dx.doi.org/10.1111/j.1551-2916.2006.01000.x
Mathur, Sanjay | Kuhn, Patrick
Surface and Coatings Technology , 2006, 201 (3-4), 807-814.
http://dx.doi.org/10.1016/j.surfcoat.2005.12.039
Lall, Anshuman A. | Seipenbusch, Martin | Rong, Weizhi | Friedlander, Sheldon K.
Journal of Aerosol Science , 2006, 37 (3), 272-282.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jaerosci.2006.01.006
Kurz, Alexander | Brakecha, Kenza | Pütz, Jörg | Aegerter, Michel A.
Thin Solid Films , 2006, 502 (1-2), 212-218.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.07.276
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