Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Kaddami, Hamid | Becker-Willinger, Carsten | Schmidt, Helmut K.
E-Polymers , 2006, 6 (020) (1), 117-130.
http://dx.doi.org/10.1515/epoly.2006.6.1.117
Ivankovic, Hrvoje | Tkalcec, Emilija | Rein, Rüdiger | Schmidt, Helmut K.
Journal of the European Ceramic Society , 2006, 26 (9), 1637-1646.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2005.03.257
Heusing, Sabine | Sun, Donglan | Otero-Anaya, Joan | Aegerter, Michel A.
Thin Solid Films , 2006, 502 (1-2), 240-245.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.07.282
Hernandez-Ramirez, Francisco | Tarancon, Alberto | Casals, Olga | Rodriguez, Jordi | Romano-Rodriguez, Albert | Morante, Juan Ramon | Barth, Sven | Mathur, Sanjay | Choi, T.Y. | Poulikakos, D. | Callegari, V. | Nellen, P. M.
Nanotechnology , 2006, 17 (22), 5577-5583.
http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/17/22/009
Guzman, Guillaume | Dahmani, Brahim | Pütz, Jörg | Aegerter, Michel A.
Thin Solid Films , 2006, 502 (1-2), 281-285.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2005.07.297
Costa, R. G. F. | Avellaneda, César O. | Pawlicka, Agnieszka | Heusing, Sabine | Aegerter, Michel A.
Molecular Crystals and Liquid Crystals , 2006, 447 363-371.
http://dx.doi.org/10.1080/15421400500380036
Conde, A. | De Damborenea, J. | Duran, A. | Mennig, Martin
Journal of Sol-Gel Science and Technology , 2006, 37 (1), 79-85.
http://dx.doi.org/10.1007/s10971-005-5357-3
Chauhan, H. P. S. | Singh, U. P. | Shaik, Nagulu Meera | Mathur, Sanjay | Huch, Volker
Polyhedron , 2006, 25 (15), 2841-2847.
http://dx.doi.org/10.1016/j.poly.2006.04.027
Biswas, A. | Eilers, H. | Hidden, F. | Aktas, Oral C. | Kiran, C. V. S.
Applied Physics Letters , 2006, 88 (1), 013103.
http://dx.doi.org/10.1063/1.2161401
Asiltürk, Meltem | Sayilkan, Funda | Erdemoglu, Sema | Akarsu, Murat | Sayilkan, Hikmet | Erdemoglu, Murat | Arpac, Ertugrul
Journal of Hazardous Materials , 2006, 129 (1-3), 164-170.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jhazmat.2005.08.027
rwe