Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Weber, Wilfried | Malphettes, L. | Rinderknecht, M. | Schoenmakers, R. G. | Spielmann, M. | Keller, B. | Van De Wetering, P. | Weber, C. C. | Fussenegger, M.
Biotechnology Progress , 2005, 21 (1), 178-185.
https://dx.doi.org/10.1021/bp0498995
Weber, Wilfried | Rimann, M. | De Glutz, F. N. | Weber, E. | Memmert, K. | Fussenegger, M.
Metabolic Engineering , 2005, 7 (3), 174-181.
https://dx.doi.org/10.1016/j.ymben.2005.01.003
Weber, Wilfried | Spielmann, M. | El-Baba, M. D. | Keller, B. | Aubel, D. | Fussenegger, M.
Biotechnology and Bioengineering , 2005, 90 (7), 893-897.
https://dx.doi.org/10.1002/bit.20482
Yu, Fayou | Mücklich, Frank | Li, Ping | Shen, Hao | Mathur, Sanjay | Lehr, Claus-Michael | Bakowsky, Udo
Biomacromolecules , 2005, 6 (3), 1160-1167.
http://dx.doi.org/10.1021/bm049324w
Yu, Fayou | Li, Ping | Shen, Hao | Mathur, Sanjay | Lehr, Claus-Michael | Bakowsky, Udo | Mücklich, Frank
Biomaterials , 2005, 26 (15), 2307-2312.
http://dx.doi.org/10.1016/j.biomaterials.2004.07.021
Veith, Michael | Andres, Kathrin | Petersen, Christian | Daniel, Claus | Holzapfel, Christian | Mücklich, Frank
Advanced Engineering Materials , 2005, 7 (1-2), 27-30.
http://dx.doi.org/10.1002/adem.200400152
Sivakov, Vladimir | Petersen, Christian | Daniel, Claus | Shen, Hao | Mücklich, Frank | Mathur, Sanjay
Applied Surface Science , 2005, 247 (1-4), 513-517.
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.01.088
Schmidt, Helmut K. | Akarsu, Murat | Müller, Thomas S. | Moh, Karsten | Schäfer, Gerd | Strauss, Daniel J. | Naumann, Matthias
Research on Chemical Intermediates , 2005, 31 (4-6), 535-553.
http://dx.doi.org/10.1163/1568567053956680
Sayilkan, Funda | Asiltürk, Meltem | Sayilkan, Hikmet | Önal, Yunus | Akarsu, Murat | Arpac, Ertugrul
Turkish Journal of Chemistry , 2005, 29 (6), 697-706.
http://mistug.tubitak.gov.tr/bdyim/abs.php?dergi=kim&rak=0501-12
Mathur, Sanjay | Shen, Hao | Leleckaite, Asta | Beganskiene, Aldona | Kareiva, Aivaras
Materials Research Bulletin , 2005, 40 (3), 439-446.
http://dx.doi.org/10.1016/j.materresbull.2004.12.002
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