Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Mathur, Sanjay | Barth, Sven | Shen, Hao | Pyun, Jae-Chul | Werner, Ulf
Small , 2005, 1 (7), 713-717.
http://dx.doi.org/10.1002/smll.200400168
Mathur, Sanjay | Barth, Sven | Shen, Hao
Chemical Vapor Deposition , 2005, 11 (1), 11-16.
http://dx.doi.org/10.1002/cvde.200306314
Lu, Wensheng | Schmidt, Helmut K.
Journal of the European Ceramic Society , 2005, 25 (6), 919-925.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2004.04.010
Kayan, Asgar | Hoebbel, Dagobert | Schmidt, Helmut K.
Journal of Applied Polymer Science , 2005, 95 (4), 790-796.
http://dx.doi.org/10.1002/app.21315
Gulbinski, Witold | Mathur, Sanjay | Shen, Hao | Suszko, T. | Gilewicz, A. | Warcholinski, B.
Applied Surface Science , 2005, 239 (3-4), 302-310.
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.05.278
Goya, Gerardo F. | Veith, Michael | Rapalaviciute, Rasa | Shen, Hao | Mathur, Sanjay
Applied Physics A-Materials Science and Processing , 2005, 80 (7), 1523-1526.
http://dx.doi.org/10.1007/s00339-003-2381-4
Garskaite, Edita | Moravec, Zdene | Pinkas, Jiri | Mathur, Sanjay | Kazlauskas, Rolandas | Kareiva, Aivaras
Philosophical Magazine Letters , 2005, 85 (11), 557-562.
http://dx.doi.org/10.1080/09500830500398389
Gaponenko, Nikolai V. | Molchan, Igor S. | Tsyrkunov, D. A. | Maliarevich, G. K. | Aegerter, Michel A. | Pütz, Jörg | Al-Dahoudi, Naji | Misiewicz, J. | Kudrawiec, R. | Lambertini, V. | Pira, N. L. | Repetto, P.
Microelectronic Engineering , 2005, 81 (2-4), 255-261.
http://dx.doi.org/10.1016/j.mee.2005.03.016
Chauhan, H. P. S. | Kori, Kavita | Shaik, Nagulu Meera | Mathur, Sanjay | Huch, Volker
Polyhedron , 2005, 24 (1), 89-95.
http://dx.doi.org/10.1016/j.poly.2004.10.007
Grobelsek, Ingrid | Rabung, Benjamin | Quilitz, Mario | Veith, Michael
Journal of Nanoparticle Research , 2011, 13 (10), 5103-5119.
http://dx.doi.org/10.1007/s11051-011-0490-0
rwe