Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Lin, Hechun | Oliveira, Peter William de | Huch, Volker | Veith, Michael
Chemistry of Materials , 2010, 22 (24), 6518-6523.
http://dx.doi.org/10.1021/cm101490w
Lin, Hechun | Oliveira, Peter William de | Veith, Michael
Optical Materials , 2011, 33 (6), 759-762.
http://dx.doi.org/10.1016/j.optmat.2010.12.009
Minaee, H. | Mousavi, Sayed Hadi | Haratizadeh, Hamid | Oliveira, Peter William de
Thin Solid Films , 2013, 545 8-12.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2013.05.155
Mousavi, Sayed Hadi | Haratizadeh, Hamid | Minaee, H.
Thin Solid Films , 2012, 520 (14), 4642-4645.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2011.10.071
Mousavi, Sayed Hadi | Müller, Thomas S. | Oliveira, Peter William de
Journal of Materials Science: Materials in Electronics , 2013, 24 (9), 3338-3343.
http://dx.doi.org/10.1007/s10854-013-1252-9
Wuerz, Roland | Eicke, Axel | Kessler, Friedrich | Rogin, Peter | Yazdani-Assl, Omid
Thin Solid Films , 2011, 519 (21), 7268-7271.
http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2011.01.399
Dandekar, Prajakta | Jain, Ratnesh | Keil, Manuel | Loretz, Brigitta | Koch, Marcus | Wenz, Gerhard | Lehr, Claus-Michael
Journal of Materials Chemistry B , 2015, 3 (13), 2590-2598.
http://dx.doi.org/10.1039/C4TB01821D
Jain, Ratnesh | Dandekar, Prajakta | Loretz, Brigitta | Koch, Marcus | Lehr, Claus-Michael
MedChemComm , 2015, 6 (4), 691-701.
http://dx.doi.org/10.1039/C4MD00490F
Chen, Yaping | Aslanoglou, Stella | Murayama, Takahide | Gervinskas, Gediminas | Fitzgerald, Laura I. | Sriram, Sharath | Tian, Jie | Johnston, Angus P. R. | Morikawa, Yasuhiro | Suu, Koukou | Elnathan, Roey | Voelcker, Nicolas H.
Advanced Materials , 2020, 32 (24), 2000036.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/adma.202000036
Husmann, Samantha | Zarbin, Aldo J. G. | Dryfe, Robert A. W.
Electrochimica Acta , 2020, 349 136243.
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0013468620306356
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