Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Lé, Tao | Bidan, Gérard | Billon, Florence | Delaunay, Marc | Gérard, Jean-Michel | Perrot, Hubert | Sel, Ozlem | Aradilla, David
Nanomaterials , 2020, 10 (12), 2451.
https://www.mdpi.com/2079-4991/10/12/2451
Lemloh, Marie-Louise | Verch, Andreas | Weiss, Ingrid M.
Journal of The Royal Society Interface , 2017, 14 (136),
http://rsif.royalsocietypublishing.org/content/royinterface/14/136/20170450.full.pdf
McMeeking, Robert M. | Ciavarella, M. | Cricrì, G. | Kim, K.-S.
Journal of Applied Mechanics , 2020, 87 (3),
https://doi.org/10.1115/1.4045794
Nomai, Jiraporn | Schlarb, Alois K.
Journal of Applied Polymer Science , 2017, 134 (43), 45451.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/app.45451
Sahli, Riad | Hem, J. | Crauste-Thibierge, C. | Clément, F. | Long, D. R. | Ciliberto, S.
Physical Review Materials , 2020, 4 (3), 035601.
https://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevMaterials.4.035601
Schultes, Günter | Schmid-Engel, Hanna | Schwebke, Silvan | Werner, Ulf
Journal of Sensors and Sensor Systems , 2018, 7 (1), 1-11.
https://jsss.copernicus.org/articles/7/1/2018/
Schwebke, Silvan | Werner, Ulf | Schultes, Günter
Journal of Sensors and Sensor Systems , 2018, 7 (1), 69-78.
https://jsss.copernicus.org/articles/7/69/2018/
Jeon, Insu | Cui, Jiaxi | Illeperuma, Widusha R. K. | Aizenberg, Joanna | Vlassak, Joost J.
Advanced Materials , 2016, 28 (23), 4678-4683.
http://dx.doi.org/10.1002/adma.201600480
Yu, Maolin | Zhang, Peisheng | Krishnan, Baiju P. | Wang, Hong | Gao, Yong | Chen, Shu | Zeng, Rongjin | Cui, Jiaxi | Chen, Jian
Advanced Functional Materials , 2018, 28 1804759, 1-11.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/adfm.201804759
Zhao, Huaixia | Prieto-López, Lizbeth Ofelia | Zhou, Xiaozhuang | Deng, Xu | Cui, Jiaxi
Advanced Materials Interfaces , 2019, 6 (20), 1901028.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/admi.201901028
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