Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Kroner, Elmar | Davis, Chelsea S.
Journal of Adhesion , 2015, 91 (6), 481-487.
http://dx.doi.org/10.1080/00218464.2014.922418
Moreno-Couranjou, Maryline | Blondiaux, Nicolas | Pugin, Raphaël | Le Houerou, Vincent | Gauthier, Christian | Kroner, Elmar | Choquet, Patrick
Plasma Processes and Polymers , 2014, 11 (7), 647-654.
http://dx.doi.org/10.1002/ppap.201300179
Isla Yagüe, Paula | Kroner, Elmar
Advanced Functional Materials , 2015, 25 (16), 2444-2450.
http://dx.doi.org/10.1002/adfm.201500241
Frensemeier, Mareike | Kaiser, Jessica S. | Frick, Carl P. | Schneider, Andreas S. | Arzt, Eduard | Fertig III, Ray S. | Kroner, Elmar
Advanced Functional Materials , 2015, 25 (20), 3013-3021.
http://dx.doi.org/10.1002/adfm.201500437
Born, Philip | Blum, Susanne | Munoz, Andres | Kraus, Tobias
Langmuir , 2011, 27 (14), 8621-8633.
http://dx.doi.org/10.1021/la2006138
Büchele, Patric | Richter, Moses | Tedde, Sandro F. | Matt, Gebhard J. | Ankah, Genesis N. | Fischer, Rene | Biele, Markus | Metzger, Wilhelm | Lilliu, Samuele | Bikondoa, Oier | Macdonald, J. Emyr | Brabec, Christoph J. | Kraus, Tobias | Lemmer, Uli | Schmidt, Oliver
Nature Photonics , 2015, 9 843-848.
http://dx.doi.org/10.1038/nphoton.2015.216
Dewald, Inna | Isakin, Olga | Schubert, Jonas | Kraus, Tobias | Chanana, Munish
Journal of Physical Chemistry C , 2015, 119 (45), 25482-25492.
http://dx.doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b06266
Elnathan, Roey | Delalat, Bahman | Brodoceanu, Daniel | Alhmoud, Hashim | Harding, Frances J. | Buehler, Katrin | Nelson, Adrienne | Isa, Lucio | Kraus, Tobias | Voelcker, Nicolas H.
Advanced Functional Materials , 2015, 25 (46), 7215-7225.
http://dx.doi.org/10.1002/adfm.201503465
Fang, Cheng | Brodoceanu, Daniel | Kraus, Tobias | Voelcker, Nicolas Hans
RSC Advances , 2013, 3 (13), 4288-4293.
http://dx.doi.org/10.1039/C3RA22457K
Kehrle, Julian | Höhlein, Ignaz M. D. | Yang, Zhenyu | Jochem, Aljosha-Rakim | Helbich, Tobias | Kraus, Tobias | Veinot, Jonathan G. C. | Rieger, Bernhard
Angewandte Chemie-International Edition , 2014, 53 12494-12497.
http://dx.doi.org/10.1002/ange.201405946
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