Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Kister, Thomas | Mravlak, Marko | Schilling, Tanja | Kraus, Tobias
Nanoscale , 2016, 8 (27), 13377-13384.
http://dx.doi.org/10.1039/C6NR01940D
Monatshefte für Chemie , 2010, 141 1267-1272.
http://dx.doi.org/10.1007/s00706-010-0364-7
Kraus, Tobias | Brodoceanu, Daniel | Pazos-Perez, Nicolas | Fery, Andreas
Advanced Functional Materials , 2013, 23 (36), 4529-4541.
http://dx.doi.org/10.1002/adfm.201203885
Labouta, Hagar I. | El-Khordagui, Labiba K. | Kraus, Tobias | Schneider, Marc
Nanoscale , 2011, 3 (12), 4989-4999.
http://dx.doi.org/10.1039/C1NR11109D
Labouta, Hagar I. | Liu, David C. | Lin, Lynlee L. | Butler, Margaret K. | Grice, Jeffrey E. | Raphael, Anthony P. | Kraus, Tobias | El-Khordagui, Labiba K. | Soyer, H. Peter | Roberts, Michael S. | Schneider, Marc | Prow, Tarl W.
Pharmaceutical Research , 2011, 28 (11), 2931-2944.
http://dx.doi.org/10.1007/s11095-011-0561-z
Lacava, Johann | Born, Philip | Kraus, Tobias
Nano Letters , 2012, 12 (6), 3279-3282.
http://dx.doi.org/10.1021/nl3013659
Lacava, Johann | Ouali, Ahmed-Amine | Raillard, Brice | Kraus, Tobias
Soft Matter , 2014, 10 (11), 1696-1704.
http://dx.doi.org/10.1039/C3SM52949E
Lacava, Johann | Weber, Anika | Kraus, Tobias
Particle & Particle Systems Characterization , 2015, 32 (4), 458-466.
http://dx.doi.org/10.1002/ppsc.201400165
Maurer, Johannes H. M. | González-García, Lola | Reiser, Beate | Kanelidis, Ioannis | Kraus, Tobias
Nano Letters , 2016, 16 (5), 2921-2925.
http://dx.doi.org/10.1021/acs.nanolett.5b04319
Philippi, Frederik | Rauber, Daniel | Kuttich, Björn | Kraus, Tobias | Kay, Christopher W. M. | Hempelmann, Rolf | Hunt, Patricia A. | Welton, Tom
Physical Chemistry Chemical Physics , 2020, 22 (40), 23038-23056.
http://dx.doi.org/10.1039/D0CP03751F
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