Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Aktas, Oral C. | Metzger, Wolfgang | Mees, Lisa | Martinez, Marina M. | Haidar, Ayman | Oberringer, Martin | Wennemuth, Gunther | Pütz, Norbert | Ghori, Muhammad Z. | Pohlemann, Tim | Veith, Michael
IET Nanobiotechnology , 2019, 13 (6), 621-625.
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Boehm, Anna K. | Ionescu, Emanuel | Koch, Marcus | Gallei, Markus
Molecules , 2019, 24 (19), 3553.
https://www.mdpi.com/1420-3049/24/19/3553
Spengler, Christian | Nolle, Friederike | Mischo, Johannes | Faidt, Thomas | Grandthyll, Samuel | Thewes, Nicolas | Koch, Marcus | Müller, Frank | Bischoff, Markus | Klatt, Michael Andreas | Jacobs, Karin
Nanoscale , 2019, 11 (42), 19713-19722.
http://dx.doi.org/10.1039/C9NR04375F
Zverina, Libor | Koch, Marcus | Andersen, Mads F. | Pinelo, Manuel | Woodley, John M. | Daugaard, Anders E.
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Lestrell, Esther | Patolsky, Fernando | Voelcker, Nicolas H. | Elnathan, Roey
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McMeeking, Robert M. | Lucantonio, A. | Noselli, G. | Deshpande, V. S.
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Yang, Peihua | Zhang, Long | Kang, Dong Jin | Strahl, Robert | Kraus, Tobias
Advanced Optical Materials , 2019, 8 (1), 1901429_1-7.
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Purtov, Julia | Rogin, Peter | Verch, Andreas | Johansen, Villads Egede | Hensel, René
Nanomaterials , 2019, 9 (10), 1495.
https://www.mdpi.com/2079-4991/9/10/1495
Silina, Yuliya E. | Semenova, D. | Spiridonov, B. A.
Analyst , 2019, 144 (19), 5677-5681.
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Oh, Yoo Jin | Khan, Essak S. | del Campo, Aránzazu | Hinterdorfer, Peter | Li, Bin
ACS Applied Materials & Interfaces , 2019, 11 (32), 29312-29319.
https://doi.org/10.1021/acsami.9b09885
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