Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Tran, Tron van | Mredha, Tariful I. | Pathak, Suraj K. | Yoon, Hyungsuk | Cui, Jiaxi | Jeon, Insu
ACS Applied Materials & Interfaces , 2019, 11 (27), 24598-24608.
https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsami.9b06478#
Doblas, David | Kister, Thomas | Cano-Bonilla, Marina | González-García, Lola | Kraus, Tobias
Nano Letters , 2019, 19 (8), 5246-5252.
https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.9b01688
Yu, Dan | Hensel, René | Beckelmann, Dirk | Opsölder, Michael | Schäfer, Bruno | Moh, Karsten | Oliveira, Peter William de | Arzt, Eduard
Journal of Materials Science , 2019, 54 (19), 12925-12937.
https://doi.org/10.1007/s10853-019-03735-x
Abbas, Qamar | Gollas, Bernhard | Presser, Volker
Energy Technology , 2019, 7 (9), 1900430.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/ente.201900430
Bacca, Mattia | Saleh, Omar A. | McMeeking, Robert M.
Soft Matter , 2019, 15 (22), 4467-4475.
http://dx.doi.org/10.1039/C8SM02598C
Prehal, Christian | Grätz, S. | Krüner, Benjamin | Thommes, Matthias | Borchardt, Lars | Presser, Volker | Paris, Oskar
Carbon , 2019, 152 416-423.
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0008622319305640
Keskin, Sercan | Kunnas, Peter | de Jonge, Niels
Nano Letters , 2019, 19 (7), 4608-4613.
https://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/acs.nanolett.9b01576
Çolak, Arzu | Li, Bin | Blass, Johanna | Koynov, Kaloian | del Campo, Aranzazu | Bennewitz, Roland
Nanoscale , 2019, 11 (24), 11596–11604.
http://dx.doi.org/10.1039/C9NR01784D
Velasco-Hogan, Audrey | Deheyn, Dimitri D. | Koch, Marcus | Nothdurft, Birgit | Arzt, Eduard | Meyers, Marc A.
Matter , 2019, 1 235-249.
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2590238519300359
Fleischmann, Simon | Pfeifer, Kristina | Widmaier, Mathias | Shim, Hwirim | Budak, Öznil | Presser, Volker
ACS Applied Energy Materials , 2019, 2 (5), 3633-3641.
https://doi.org/10.1021/acsaem.9b00363
rwe