Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Blach, Patricia S. | Weinberg, Florian | Peckys, Diana | Dahmke, Indra N. | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2019, 25 (1S), 51-52.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927618015982
Cepeda-Perez, Elisa | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2019, 25 (S1), 43-44.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927618015945
Dahmke, Indra N. | Verch, Andreas | Peckys, Diana B. | Weatherup, Robert | Hofmann, Stephan | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2019, 25 (S1), 5-6.
https://dx.doi.org/10.1017/S1431927618015787
de Jonge, Niels | Molhave, Kristian | Alloyeau, Damien
Microscopy and Microanalysis , 2019, 25 (S1), 1-2.
https://doi.org/10.1017/S1431927618015763
Keskin, Sercan | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2019, 25 (S1), 11-12.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927618015805
Kunnas, Peter | Rzadkiewicz, Sebastian | Moradi, Mohammad-Amin | Patterson, Joseph | Sommerdijk, Nico A. J. M. | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2019, 25 (S1), 55-56.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927618016008
Peckys, Diana | Alansary, Dalia | Niemeyer, Barbara A. | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2019, 25 (S1), 9-10.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927618015799
Kang, Dong Jin | An, Seongpil | Yarin, Alexander L. | Anand, Sushant
Nanoscale , 2019, 11 (4), 2065-2070.
http://dx.doi.org/10.1039/C8NR08215D
Müllers, Yannik | Meiser, Ina | Stracke, Frank | Riemann, Iris | Lautenschläger, Franziska | Neubauer, Julia C. | Zimmermann, Heiko
PLOS ONE , 2019, 14 (1), e0211382.
https://journals.plos.org/plosone/article?id=10.1371/journal.pone.0211382
Tinnemann, Verena | Hernández, Luissé | Fischer, Sarah C. L. | Arzt, Eduard | Bennewitz, Roland | Hensel, René
Advanced Functional Materials , 2019, 29 1807713 (1-11).
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/adfm.201807713
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