Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Wagner, H. J. | Kemmer, S. | Engesser, R. | Timmer, J. | Weber, Wilfried
Advanced Science , 2019, 6 (4), 1801320.
https://dx.doi.org/10.1002/advs.201801320
Wagner, H. J. | Weber, Wilfried
Molecules , 2019, 24 (10),
https://dx.doi.org/10.3390/molecules24101945
Yousefi, O. S. | Günther, M. | Hörner, M. | Chalupsky, J. | Wess, M. | Brandl, S. M. | Smith, R. W. | Fleck, C. | Kunkel, T. | Zurbriggen, M. D. | Höfer, T. | Weber, Wilfried | Schamel, W. W.
eLife , 2019, 8
https://dx.doi.org/10.7554/eLife.42475
Lee, Juhan | Srimuk, Pattarachai | Fleischmann, Simon | Su, Xiao | Hatton, T. Alan | Presser, Volker
Progress in Materials Science , 2018, 101 46-89.
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Schwebke, Silvan | Winter, Steffen | Koch, Marcus | Schultes, Günter
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https://doi.org/10.1038/s41586-018-0725-7
Hahn, G. | Kunnas, Peter | de Jonge, Niels | Kempe, Rhett
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Mredha, Md Tariful Islam | Pathak, Suraj Kumar | Tran, Van Tron | Cui, Jiaxi | Jeon, Insu
Chemical Engineering Journal , 2018, 362 325-338.
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Danielsson, Frida | Peterson, McKenzie | Caldeira Araújo, Helena | Lautenschläger, Franziska | Gad, Annica
Cells , 2018, 7 (10), 147.
http://www.mdpi.com/2073-4409/7/10/147
Pelz, Alexander | Dörr, Tobias S. | Zhang, Peng | Oliveira, Peter William de | Winter, Martin | Wiemhöfer, Hans-Dieter | Kraus, Tobias
Chemistry of Materials , 2018, 31 (1), 277-285.
https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.8b04686
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