Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Keskin, Sercan | de Jonge, Niels
Nano Letters , 2018, 18 (12), 7435-7440.
https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.8b02490
Veith, Michael | Opsölder, Michael | Huch, Volker
Zeitschrift Für Anorganische Und Allgemeine Chemie , 2018, 644 1549-1556.
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/abs/10.1002/zaac.201800374
Farrukh, Aleeza | Zhao, Shifang | del Campo, Aránzazu
Frontiers in Materials , 2018, 5 (62),
https://www.frontiersin.org/article/10.3389/fmats.2018.00062
Latorre, Ernest | Kale, Sohan | Casares, Laura | Gómez-González, Manuel | Uroz, Marina | Valon, Léo | Nair, Roshna V. | Garreta, Elena | Montserrat, Nuria | del Campo, Aránzazu | Ladoux, Benoit | Arroyo, Marino | Trepat, Xavier
Nature , 2018, 563 (7730), 203-208.
https://doi.org/10.1038/s41586-018-0671-4
Srimuk, Pattarachai | Lee, Juhan | Budak, Öznil | Choi, Jaehoon | Chen, Ming | Feng, Guang | Prehal, Christian | Presser, Volker
Langmuir , 2018, 34 (44), 13132-13143.
https://doi.org/10.1021/acs.langmuir.8b02485
Semenova, Daria | Gernaey, K. V. | Silina, Yuliya E.
Analyst , 2018, 143 (23), 5646-5669.
http://dx.doi.org/10.1039/C8AN01632A
Rohles, Christina Maria | Gläser, Lars | Kohlstedt, Michael | Gießelmann, Gideon | Pearson, Samuel | del Campo, Aránzazu | Becker, Judith | Wittmann, Christoph
Green Chemistry , 2018, 20 (20), 4662-4674.
http://dx.doi.org/10.1039/C8GC01901K
Bachmaier, Andrea | Rathmayr, Georg Benedikt | Schmauch, Jörg | Schell, Norbert | Stark, Andreas | de Jonge, Niels | Pippan, Reinhard
Journal of Materials Research , 2018, 34 (1), 58-68.
http://dx.doi.org/10.1557/jmr.2018.185
Mohammed, A. F. | Al-Jarwany, Q. A. | Clarke, A. J. | Amaral, T. M. | Lawrence, J. | Kemp, N. T. | Walton, C. D.
Chemical Physics Letters , 2018, 713 194-202.
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0009261418307863
Ando, Toshio | Bhamidimarri, Satya Prathyusha | Brending, Niklas | H. Colin-York | Collinson, Lucy | De Jonge, Niels | de Pablo, P. J. | Debroye, Elke | Eggeling, Christian | Franck, Christian | Fritzsche, Marco | Gerritsen, Hans | Giepmans, Ben N.G. | Grunewald, Kai | Hofkens, Johan | Hoogenboom, Jacob P. | Janssen, Kris P. F. | Rainer, Kaufman | Klumpermann, Judith | Kurniawan, Nyoman | Kusch, Jana | Liv, Nalan | Parekh, Viha | Peckys, Diana B. | Rehfeldt, Florian | Reutens, David C. | Roeffaers, Maarten, B.J. | Salditt, Tim | Schaap, Iwan A.T. | Schwarz, Ulrich S. | Verkade, Paul | Vogel, Michael W. | Wagner, Richard | Winterhalter, Mathias | Yuan, Haifeng | Zifarelli, Giovanni
Journal of Physics D-Applied Physics , 2018, 51 (44), 443001.
http://stacks.iop.org/0022-3727/51/i=44/a=443001
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