Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
de Jonge, Niels | Peckys, Diana | Wiemann, Stefan
Microscopy and Microanalysis , 2017, 23 (S1), 1106-1107.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927617006195
de Jonge, Niels | Verch, Andreas | Hermannsdörfer, Justus | de Jong, Krijn P. | Zecevic, Jovana
Microscopy and Microanalysis , 2017, 23 (S1), 856-857.
http://dx.doi.org/10.1017/S1431927617004949
Peckys, Diana B. | Korf, Ulrike | Wiemann, Stefan | de Jonge, Niels
Molecular Biology of the Cell , 2017, 28 3193-202.
http://www.molbiolcell.org/content/early/2017/08/08/mbc.E17-06-0381.abstract
Blass, Johanna | Brunke, Jessica | Emmerich, Franziska | Przybylski, Cédric | Garamus, Vasil M. | Feoktystov, Artem | Bennewitz, Roland | Wenz, Gerhard | Albrecht, Marcel
Beilstein Journal of Organic Chemistry , 2017, 13 938-951.
http://dx.doi.org/10.3762/bjoc.13.95
Koczwara, Christian | Rumswinkel, Simon | Prehal, Christian | Jäckel, Nicolas | Elsässer, Michael S. | Amenitsch, Heinz | Presser, Volker | Hüsing, Nicola | Paris, Oskar
ACS Applied Materials & Interfaces , 2017, 9 (28), 23319-23324.
http://dx.doi.org/10.1021/acsami.7b07058
Lee, Juhan | Srimuk, Pattarachai | Fleischmann, Simon | Ridder, Alexander | Zeiger, Marco | Presser, Volker
Journal of Materials Chemistry A , 2017, 5 (24), 12520-12527.
http://dx.doi.org/10.1039/C7TA03589F
Srimuk, Pattarachai | Lee, Juhan | Fleischmann, Simon | Choudhury, Soumyadip | Jackel, Nicolas | Zeiger, Marco | Kim, Choonsoo | Aslan, Mesut | Presser, Volker
Journal of Materials Chemistry A , 2017, 5 (30), 15640-15649.
http://dx.doi.org/10.1039/C7TA03120C
Widmaier, Mathias | Jäckel, Nicolas | Zeiger, Marco | Abuzarli, Murad | Engel, Christine | Bommer, Lars | Presser, Volker
Electrochimica Acta , 2017, 247 1006-1018.
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0013468617314901
Fischer, Sarah C. L. | Groß, Katja | Torrents Abad, Oscar | Becker, Michael M. | Park, Euiyoung | Hensel, René | Arzt, Eduard
Advanced Materials Interfaces , 2017, 4 (20), 1700292-1-8.
http://dx.doi.org/10.1002/admi.201700292
Barth, Carlo | Roder, Sebastian | Brodoceanu, Daniel | Kraus, Tobias | Hammerschmidt, Martin | Burger, Sven | Becker, Christiane
Applied Physics Letters , 2017, 111 (3), 031111 – 1-5.
http://aip.scitation.org/doi/abs/10.1063/1.4995229
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