Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Fischer, Sarah | Kruttwig, Klaus | Bandmann, Vera | Hensel, René | Arzt, Eduard
Macromolecular Materials and Engineering , 2017, 302 (5), 1600526.
http://dx.doi.org/10.1002/mame.201600526
Choudhury, Soumyadip | Zeiger, Marco | Massuti-Ballester, Pau | Fleischmann, Simon | Formanek, Petr | Borchardt, Lars | Presser, Volker
Sustainable Energy & Fuels , 2017, 1 (1), 84-94.
http://dx.doi.org/10.1039/c6se00034g
Krüner, Benjamin | Srimuk, Pattarachai | Fleischmann, Simon | Zeiger, Marco | Schreiber, Anna | Aslan, Mesut | Quade, Antje | Presser, Volker
Carbon , 2017, 117 46-54.
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0008622317301835
Blass, Johanna | Albrecht, Marcel | Wenz, Gerhard | Zang, Yan Nan | Bennewitz, Roland
Physical Chemistry Chemical Physics , 2017, 19 (7), 5239-5245.
http://dx.doi.org/10.1039/C6CP07532K
Kang, S. J. | Rittgen, Kai T. | Kwan, S. G. | Park, H. W. | Bennewitz, Roland | Caron, Arnaud
Friction , 2017, 5 (1), 115-122.
http://dx.doi.org/10.1007/s40544-017-0149-7
Hermannsdörfer, Justus | de Jonge, Niels
Journal of Visualized Experiments , 2017, (120), e54943.
http://www.jove.com/video/54943
Adam, Jens | Metzger, Wilhelm | Koch, Marcus | Rogin, Peter | Coenen, Toon | Atchison, Jennifer S. | König, Peter
Nanomaterials , 2017, 7 (2), -.
http://dx.doi.org/10.3390/nano7020026
Ali, Awadelkareem A. | Haidar, Ayman | Polonskyi, O. | Faupel, F. | Abdul-Khaliq, Hashim | Veith, Michael | Aktas, Oral C.
Nanoscale , 2017, 9 (39), 14814-14819.
http://dx.doi.org/10.1039/C7NR05336C
Schaefer, Sandra | Kickelbick, Guido
Dalton Transactions , 2017, 46 (1), 221-226.
http://dx.doi.org/10.1039/C6DT03872G
Verch, Andreas | Purtov, Julia | de Jonge, Niels
Microscopy and Microanalysis , 2017, 22 (S5), 84-85.
http://dx.doi.org/0.1017/s1431927616012459
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