Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Fleischmann, Simon | Tolosa, Aura | Zeiger, Marco | Kruner, Benjamin | Peter, Nicolas J. | Grobelsek, Ingrid | Quade, Antje | Kruth, Angela | Presser, Volker
Journal of Materials Chemistry A , 2016, 5 2792-2801.
http://dx.doi.org/10.1039/C6TA09890H
Jäckel, Nicolas | Simon, Patrice | Gogotsi, Yury | Presser, Volker
ACS Energy Letters , 2016, 1 (6), 1262-1265.
http://dx.doi.org/10.1021/acsenergylett.6b00516
Srimuk, Pattarachai | Zeiger, Marco | Jäckel, Nicolas | Tolosa, Aura | Krüner, Benjamin | Fleischmann, Simon | Grobelsek, Ingrid | Aslan, Mesut | Shvartsev, Boris | Suss, Matthew E. | Presser, Volker
Electrochimica Acta , 2016, 224 314-328.
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0013468616326068
Chan, Nicholas | Balakrishna, Soorali Ganeshamurthy | Klemenz, Andreas | Moseler, Michael | Egberts, Philip | Bennewitz, Roland
Carbon , 2016, 113 132-138.
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0008622316309873
Zeiger, Marco | Ariyanto, Teguh | Kruner, Benjamin | Peter, Nicolas J. | Fleischmann, Simon | Etzold, Bastian J. M. | Presser, Volker
Journal of Materials Chemistry A , 2016, 4 (48), 18899-18909.
http://dx.doi.org/10.1039/C6TA08900C
Jäckel, Nicolas | Krüner, Benjamin | Van Aken, Katherine L. | Alhabeb, Mohamed | Anasori, Babak | Kaasik, Friedrich | Gogotsi, Yury | Presser, Volker
ACS Applied Materials & Interfaces , 2016, 8 (47), 32089-32093.
http://dx.doi.org/10.1021/acsami.6b11744
Srimuk, Pattarachai | Kaasik, Friedrich | Kruner, Benjamin | Tolosa, Aura | Fleischmann, Simon | Jackel, Nicolas | Tekeli, Mehmet C. | Aslan, Mesut | Suss, Matthew E. | Presser, Volker
Journal of Materials Chemistry A , 2016, 4 (47), 18265-18271.
http://dx.doi.org/10.1039/C6TA07833H
Weber, Eva | Weiss, Ingrid M. | Colfen, Helmut | Kellermeier, Matthias
CrystEngComm , 2016, 18 (43), 8439-8444.
http://dx.doi.org/10.1039/C6CE01878E
Zeiger, Marco | Fleischmann, Simon | Kruner, Benjamin | Tolosa, Aura | Bechtel, Stephan | Baltes, Mathias | Schreiber, Anna | Moroni, Riko | Vierrath, Severin | Thiele, Simon | Presser, Volker
RSC Advances , 2016, 6 (109), 107163-107179.
http://dx.doi.org/10.1039/C6RA24181F
Srimuk, Pattarachai | Ries, Lucie | Zeiger, Marco | Fleischmann, Simon | Jackel, Nicolas | Tolosa, Aura | Kruner, Benjamin | Aslan, Mesut | Presser, Volker
RSC Advances , 2016, 6 (108), 106081-106089.
http://dx.doi.org/10.1039/C6RA22800C
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