Der Servicebereich Elektronen-Mikroskopie betreibt elektronenoptische und röntgenanalytische Verfahren für alle Programmbereiche des Hauses, für Arbeitsgruppen der Universität des Saarlandes und für externe Auftraggeber. Mikroskopische Untersuchungen bis in den Nanometerbereich werden mittels Transmissionselektronen- (TEM) und Rasterelektronenmikroskopie (REM) durchgeführt und mit lokaler Röntgenspektralanalyse (EDX) ergänzt. Ein Zweistrahlgerät (FIB) ermöglicht die Präparation dünner TEM-Lamellen vieler biologischer und materialwissenschaftlicher Materialien, die mit Hilfe einer Ionenmühle mit fokussiertem Argonionenstrahl (Nanomill) für atomare analytische Fragestellungen nachgedünnt werden können. Für spezielle elektronenmikroskopische Fragestellungen kommen Mikrotomie, elektrolytisches Dünnen, Ionenmühlen mit nicht-fokussiertem Ionenstrahl und Sputter- bzw. Bedampfungsanlagen zum Einsatz.
Mitarbeiter
Publikationen
Silina, Yuliya E. | Welck, Jennifer | Kraegeloh, Annette | Koch, Marcus | Fink-Straube, Claudia
Journal of Chromatography B , 2016, 1029–1030 222-229.
http://dx.doi.org/10.1016/j.jchromb.2016.07.014
Pei, Xian-Qiang | Lin, Le-Yu | Schlarb, Alois K. | Bennewitz, Roland
Tribology Letters , 2016, 63 (3), 1-9.
http://dx.doi.org/10.1007/s11249-016-0732-5
Moore, Eli | Zill, Andrew T. | Anderson, Cyrus A. | Jochem, Aljosha R. | Zimmerman, Steven C. | Bonder, Claudine S. | Kraus, Tobias | Thissen, Helmut | Voelcker, Nicolas H.
Macromolecular Chemistry and Physics , 2016, 217 2252-2261.
http://dx.doi.org/10.1002/macp.201500507
Lee, Juhan | Choudhury, Soumyadip | Weingarth, Daniel | Kim, Daekyu | Presser, Volker
ACS Applied Materials & Interfaces , 2016, 8 23676-23687, S1-S7.
http://dx.doi.org/10.1021/acsami.6b06264
Ali, Awadelkareem A. | Huch, Volker | Aktas, Cenk | Veith, Michael
Zeitschrift Für Anorganische Und Allgemeine Chemie , 2016, 642 (18), 973-978.
http://dx.doi.org/10.1002/zaac.201600217
Jäckel, Nicolas | Rodner, Marius | Schreiber, Anna | Jeongwook, J. | Zeiger, Marco | Aslan, Mesut | Weingarth, Daniel | Presser, Volker
Journal of Power Sources , 2016, 326 660-671.
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0378775316302166
Souza, Nicolas | Lasserre, Féderico | Blickley, Adam | Zeiger, Marco | Suarez, Sebastián | Duarte, Martín | Presser, Volker | Muecklich, Frank
RSC Advances , 2016, 6 (76), 72596-72606.
http://dx.doi.org/10.1039/C6RA15479D
Niewöhner, Ludwig | Barth, Martin | Neimke, Dieter | Latzel, Silke | Stamouli, Amalia | Nys, Bart | Gunaratnam, Lawrence | Fries, Kira | Uhlig, Steffen | Baldauf, Henning
Forensic Chemistry , 2016, 1 22-30.
http://dx.doi.org/10.1016/j.forc.2016.06.002
Lin, Leyu | Schlarb, Alois K.
Polymer Engineering & Science , 2016, 56 (6), 636-642.
http://dx.doi.org/10.1002/pen.24289
Suksut, Buncha | Schlarb, Alois K.
Journal of Applied Polymer Science , 2016, 133 (37), 43944.
http://dx.doi.org/10.1002/app.43944
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